國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,安測(cè)半導(dǎo)體技術(shù)(義烏)有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種電源芯片測(cè)試方法及裝置”的專(zhuān)利,公開(kāi)號(hào)CN121324898A,申請(qǐng)日期為2025年11月。專(zhuān)利摘要顯示,本發(fā)明屬于芯片測(cè)試(晶圓測(cè)試)領(lǐng)域,為了解決在電源芯片的測(cè)試過(guò)程中,通常需要人工連線(xiàn),由于連線(xiàn)較多,導(dǎo)致作業(yè)效率較低,而且經(jīng)常出現(xiàn)連線(xiàn)錯(cuò)誤的問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種電源芯片測(cè)試方法及裝置,該裝置包括:連接單元,所述連接單元包括多個(gè)測(cè)試針,所述測(cè)試針與待測(cè)晶圓連接;探針單元,所述探針單元包括多個(gè)探針,通過(guò)探針與連接單元連接;測(cè)試電路單元,所述測(cè)試電路單元與探針單元的探針連接,用于發(fā)出測(cè)試信號(hào);處理單元,用于根據(jù)所述測(cè)試電路單元發(fā)出的信號(hào),對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行電壓測(cè)試。本發(fā)明中連接單元直接通過(guò)探針單元與測(cè)試電路單元連接,不再需要